| Title | EBIC investigations of defect distribution in ELOG GaN films |
|---|---|
| Publication year | 2009 |
| Author | B. Yakimov, P. S. Vergeles, A. V. Govorkov, A. Y. Polyakov, N. B. Smirnov, In Whan Lee, Cheul Ro Lee and S. J. Pearton |
| Journal | Physica B-Condensed Matter (IF: 2.436) |
| JCR factor | 56.52 % |
| Vol | Vol.404, pp.4915-4918 |
| DOI | https://doi.org/10.1016/j.physb.2009.08.215 |
Semiconductor Materials & Process Laboratory
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